ZWOLLE (AFN) - RoodMicrotec heeft een nieuw inspectiesysteem voor halfgeleiderwafers geïnstalleerd in zijn testfaciliteit in het Duitse Nördlingen. Het systeem stelt de toeleverancier aan de chipindustrie naar eigen zeggen in staat om mogelijke defecten, die bijvoorbeeld in het productieproces of tijdens transport zijn ontstaan, nauwkeurig te identificeren.
Financiële details bracht Rood niet naar buiten. Het automatisch optisch inspectiesysteem is volgens het bedrijf in staat om automatisch 6, 8 en 12 inch wafers te verwerken van cassette tot cassette. Het systeem biedt ook de mogelijkheid om hele of gedeeltelijke wafers, gemonteerd op een filmframe, te behandelen en te inspecteren.